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Ftir翻譯

使用粉末XRD(西門子5005)研究包含MFI相的參考材料和新材料的結晶度和相純度。SBA-15材料的形態通過使用Philips XL30裝置的掃描電子顯微鏡(SEM)來確定。使用Philips CM200儀器記錄透射電子顯微鏡(TEM)圖像。27Al MAS NMR技術(Bruker 500)用於研究樣品中的鋁環境。使用常規的容量技術和NOVA 2000吸附儀(Quantachrome ),在-196℃下測定獲得的材料的氮吸附等溫線。在分析之前,樣品在300°C真空下脫氣4小時。使用吡啶吸附作為探針分子,通過FT IR光譜跟蹤樣品的酸度。樣品

在測量前於45℃蒸發2h(10-4托)。使用XRD粉末(西門子5005)研究了結晶度和相純度的參考以及含有MFI相的新材料。通過使用Philips XL30儀器掃描電子顯微鏡來確定SBA-15材料的形態。使用Philips CM2000儀器記錄透射電子顯微鏡圖像。人們使用27AI MAS技術(BRUKER500)研究樣品中的鋁環境,可以在-196 c下測定材料的氮吸附等溫線,而且這是通過使用傳統的容量技術和NOVA 2000吸附器來完成的。在分析之前,所有樣品必須在300攝氏度下脫氣4小時,樣品的酸度將通過FTIR紅外光譜進行跟蹤。氮吸附被用作探針分子,在測量之前,所有樣品必須在45 ℃( 10-4托)下排空2小時。

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